Az előadássorozat címe (Az atomoktól a csillagokig) egyben a jelen előadás apropóját is adja, hiszen mindkét képalkotást jelentősen behatárolta az u.n. gömbi hiba, azaz, hogy az egy pontból kiinduló sugarakat nem tudtuk egy pontba leképezni. Ez megmutatkozott a Hubble űrteleszkóp szférikus aberráció okozta első, az elvártnál jóval gyengébb teljesítményében (ezt egy 10 lencsés korrekciós szemüveggel lehetett orvosolni), illetve hosszú időn keresztül behatárolta a transzmissziós elektronmikroszkópia felbontását. Utóbbiban igen tökéletlen elektromágneses lencséket használunk képalkotásra. Kb. 20 évvel ezelőtt azonban ott is megszületett a gömbihiba-korrektor, ami mára elérhetővé vált a kereskedelemben kapható TEM/STEM mikroszkópokban. Nemrég a feltalálók megkapták az igen rangos (és egy millió dollár összegű) norvég Kavli Prize díjat. Mintegy két éve Magyarországon is működik egy ilyen mikroszkóp, Angström alatti felbontással. Az előadás hallgatói betekintést kapnak az atomi szintű képalkotásba 1-2 atomrétegnyi félvezető rétegek (pl. grafén/InN/SiC) mikroszkópiáján keresztül, illetve megismerhetik az ezzel párhuzamosan kiszélesedett analitikai lehetőségeket, atomi szintű elemeloszlási térképeket.